Описание
М. Радио и связь 1988 224 с., ил. Мягкая обложка, увеличенный формат.
Рассмотрены показатели надежности запоминающих устройств (ЗУ) и их расчет, исследованы отказы ЗУ. Большое внимание уделено структурным и параметрическим методам повышения надежности ЗУ, оценке их эффективности и практической реализации. Рассмотрены методы и средства функционального контроля, диагностики и испытаний ЗУ. Тираж книги 12 тыс. экз. Вес книги 225 гр.
Состояние книги: нечитанный экземпляр, следы высохшей влаги в нижней части листов, в остальном - очень хорошее
№1368
